Metrology SEM+FIB system
- Zamawiający
- Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
- Opublikowano
- 2026-11-02
- Termin
- Nie podano
- Źródła
- NL_TENDERNED
- Wartość
- Nie podano
Opis
Opis jest w języku źródła.
The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.
Członkostwo
Przeglądaj podglądy bezpłatnie. Linki do oficjalnych ogłoszeń i dokumentów, pozwolenia na budowę oraz osobisty dostęp MCP wymagają aktywnego płatnego członkostwa.
Czytaj