Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- Committente
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Pubblicato
- 2026-11-12
- Scadenza
- Non indicato
- Fonti
- TED
- Valore
- Non indicato
Descrizione
La descrizione è nella lingua della fonte.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
CPV: 38000000
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