Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- Auftraggeber
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Veröffentlicht
- 2026-11-12
- Frist
- Nicht angegeben
- Quellen
- TED
- Wert
- Nicht angegeben
Beschreibung
Die Beschreibung ist in der Sprache der Quelle.
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
CPV: 38000000
Mitgliedschaft
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