Tenderfy

ZP/G/S/64/26 Modułowa platf. do oceny jakości stopów metali lekkich wytw. na bazie mat. z recyklingu, cz. 3 Skaningowy mikroskop elektron.(SEM) wraz z zintegrowanym syst. do precyzyjnych analiz mat. i morfolog./Modular platf. for quality assessm. of light metal alloys from recycled materials, lot 3: Scanning electron microscope(SEM) with an integrated syst. for precise mat. and morpholog. analysis

Committente
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Metali Nieżelaznych
Pubblicato
2026-11-03
Scadenza
2026-12-08T08:00:00+00:00
Fonti
TED
Valore
Non indicato

Descrizione

La descrizione è nella lingua della fonte.

„Modułowa platforma do oceny jakości stopów metali lekkich wytwarzanych na bazie materiałów pochodzących z recyklingu, cz. 3 Skaningowy mikroskop elektronowym (SEM) wraz z integrowanym systemem do precyzyjnych analiz materiałowych i morfologicznych”/ The subject-matter of the procurement is supply of Modular platform for quality assessment of light metal alloys produced from recycled materials, lot 3: Scanning electron microscope (SEM) with an integrated system for precise material and morphological analysis

CPV: 38511100

Abbonamento

Leggi gratuitamente le anteprime. I collegamenti ai bandi ufficiali e ai documenti, i permessi edilizi e l’accesso MCP personale richiedono un abbonamento a pagamento attivo.

Leggi