Atomic Force Microscope (AFM)
- Committente
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften
- Pubblicato
- 2026-10-25
- Scadenza
- Non indicato
- Fonti
- TED
- Valore
- Non indicato
Descrizione
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Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
CPV: 38000000
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