Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
- Auftraggeber
- Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth
- Veröffentlicht
- 2026-11-11
- Frist
- 2026-11-27T09:00:00+00:00
- Quellen
- TED
- Wert
- Nicht angegeben
Beschreibung
Die Beschreibung ist in der Sprache der Quelle.
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
CPV: 38510000, 38514200
Mitgliedschaft
Vorschauen sind kostenlos. Links zu offiziellen Bekanntmachungen und Dokumenten, Baugenehmigungen und persönlicher MCP-Zugang erfordern eine aktive kostenpflichtige Mitgliedschaft.
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